ELLCIE Industries GmbH
Realizing Technological Innovations

UNSERE PRODUKTE

Der wesentliche Vorteil der Rasterelektronenmikroskopie ist die hohe Auflösung bei gleichzeitig großer Schärfentiefe. Zusätzlich können Elementanalysen im Bereich der oberflächennahen Feinstruktur einer Probe durchgeführt werden. Das ELLCIE Großkammer-Rasterelektronenmikroskop MIRA ist eine neue Klasse in der Rasterelektronenmikroskopie. Es setzt neue Maßstäbe in der zerstörungsfreien Mess- und Prüftechnik. Im Gegensatz zu konventionellen Rasterelektronenmikroskopen werden im ELLCIE Großkammer-Rasterelektronenmikroskop die Elektronenoptik und der Detektor in einer 2 Kubikmeter großen Vakuumkammer frei positioniert. Die zu untersuchende Probe bleibt dabei unbeeinflusst. So erschließt MIRA neue Anwendungen in der Rasterelektronenmikroskopie.